| 1 |
X-ışınlarının oluşumu, özellikleri ve kristalografi ile ilişkisi tanıtılır.
|
|
|
|
| 2 |
Kristal yapılar, birim hücre ve kafes kavramları ele alınır.
|
|
|
|
| 3 |
Miller indisleri ve kristal düzlemleri ayrıntılı olarak incelenir.
|
|
|
|
| 4 |
Bragg yasası ve kırınım koşulları matematiksel olarak türetilir.
|
|
|
|
| 5 |
Toz kırınımı yöntemi ve deneysel düzenek tanıtılır.
|
|
|
|
| 6 |
Kırınım desenlerinin oluşumu ve pik konumlarının yorumlanması ele alınır.
|
|
|
|
| 7 |
VİZE |
|
|
|
| 8 |
Kafes parametrelerinin hesaplanması ve indeksleme yöntemleri incelenir.
|
|
|
|
| 9 |
Kristalit boyutu ve mikrogerinim hesaplamaları (Scherrer, Williamson–Hall) değerlendirilir.
|
|
|
|
| 10 |
Faz tanımlama ve veri tabanı (PDF/JCPDS) kullanımı ele alınır.
|
|
|
|
| 11 |
Rietveld analizi ve nicel faz tayini yöntemleri incelenir.
|
|
|
|
| 12 |
Tercihli yönlenme, amorf içerik ve hatalı piklerin yorumlanması değerlendirilir.
|
|
|
|
| 13 |
İnce film ve yüzey analizlerinde XRD teknikleri ele alınır.
|
|
|
|
| 14 |
XRD’nin katalizörler, seramikler ve polimer sistemlerine uygulanması incelenir.
|
|
|
|
| 15 |
Dersin genel değerlendirmesi yapılır ve seçilmiş deneysel veriler yorumlanır.
|
|
|
|
