Yıl: 2024, Dönem: Güz
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar
Materials characterization - Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yang Leng, 2008
Dersin İçeriği
Nano ölçekli görüntüleme teknikleri (OM, STM, AFM, SEM, TEM): Karakterizasyon için kullanılan etkileşim süreçlerinin fiziği; Toplanan sinyallerin nicelenmesi ve yorumlanması; Gerçek cihazların yapımında yapılan mühendislik uzlaşmaları; Her yöntem için temel sınırlar.
Dersin Amacı
Bu dersin amacı, öğrencilere günümüzde araştırma kurumlarında yaygın olarak kullanılan nanomalzemelerin karakterizasyon tekniklerinin teorisi ve çalışma prensipleri hakkında bilgi vermektir. Bu nedenle, bu ders öğrencileri gelecekte etkili bir şekilde uygulanması gereken tekniklere hazırlamayı amaçlamaktadır.
